A IBM (NYSE: IBM), em colaboração com cientistas das Universidades de Regensburg, Alemanha, e de Utrecht, Holanda, demonstraram pela primeira vez a capacidade de medir o sinal da carga elétrica de átomos individuais usando um Microscópio de Forças Atômicas (sem contacto fisico) - AFM.
Medindo cargas elétricas ao nivel do um electrão e à nanoescala, os investigadores conseguiram distinguir átomos neutros de outros carregados positiva ou negativamente. Isto representa um marco na nanociência e abre novas possibilidades na exploração de estruturas e dispositivos em nanoescala nos derradeiros limites atômico e molecular. Estes resultados representam um potencial impacto numa variedade de domínios, tais como a electrónica molecular, a catálise ou a fotovoltaica.
Conforme publicado na revista Science de Junho, Leo Gross, Fabian Mohn e Gerhard Meyer do Laboratório da IBM em Zurique em colaboração com colegas das Universidades de Ratisbona e de Utrecht conseguiram visualizar e identificar diferentes cargas em átomos individuais de ouro e prata, medindo as pequenas diferenças de forças entre uma ponta do microscópio de força atômica e um átomo carregado ou neutro, localizado nas proximidades daquela.
Para realizar estas experiências, os investigadores utilizaram uma combinação de um "scanning tunneling microscope" (STM) e outro de força atómica "atomic force microscope" (AFM) operados no vácuo a temperatura muito baixas (5º Kelvin) de forma a atingir a alta necessária estabilidade para as medições.
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